1 前言

银是一种历史悠久的贵金属，其中925银首饰是在含量为92.5%的纯银基础上加上7.5%的合金，其合金通常为铜和锌。合金的作用使银的硬度、光泽、亮度都会有明显的改善。同时能够镶嵌各种宝石，做成中高档首饰，其性价比高，属于消费者最喜爱的首饰品种之一[1]。

The teacher gives the students different tasks according to their interests,levels,need and strategies.So the students can improve in the field they like.With the development of their language skills and competence,they can be encouraged to enlarge their interestsand need.

目前市场流行的银首饰为了使表面更加美观和亮白，均在工艺上采用表面镀层的方式，总结出银首饰表面镀层分两大类：第一类表面镀层为金属铑，作用是为了防止银首饰氧化，同时增加银首饰视觉上的美观。第二类表面镀层为金属银，经过镀银处理的银首饰表面更加的亮白[2]。

然而，首饰银含量是广大消费者极其关心的事情。目前，国内对于银首饰银含量的常用检测方法有：X射线荧光光谱法[3]、电位滴定法[4-5](仲裁法)、ICP光谱分析法[6]等。为此，本次实验针对含镀层样品的925银合金首饰，采用X射线荧光光谱法、电位滴定法、ICP光谱法对其银含量进行研究，比较三种方法的银含量测定结果，探讨镀层样品对其银含量在检测方法中的差异。

在确定设立“新锐奖”时，勘探分公司负责人就道出了设奖初衷。“勘探分公司400多人的队伍，三分之一以上是年轻人。把年轻人培养起来挑大梁，勘探事业才后继有人。”

2 仪器设备基本情况

表1 仪器设备基本情况

Table 1 Basic description of the instruments

仪器名称型号厂家X射线荧光能谱仪Quant’X美国热电贵金属精密测试仪EDX3000PLUS江苏天瑞能量色散X荧光光谱仪Smart100PLUS江苏天瑞X射线材料分析仪XAN-250南通菲希尔电位滴定仪ED-2上海精密科学仪器全谱直读等离子体发射光谱仪(ICP)SPECTROBLUE斯派克

3 样品基本情况记录表和样品图片

表2 样品情况基本描述

Table 2 Basic description of the samples

样品编号饰品类型质量(g)印记S1手镯5.49S925S2戒指4.03S925S3手镯5.67S925

图1 样品压片前后照片 Fig.1 The pictures of the samples before and after being pressed

4 三种检测方法的操作步骤

4.1 X射线荧光光谱法测定首饰银含量

4)底板未支护。76-2号专用回风巷原支护方案只考虑顶板和两帮的支护，巷道底板无支护，导致底板在高应力作用下碎碎，自由变形严重。

4.2 电位滴定法测定首饰银含量

准确称取0.30000g银首饰样品于玻璃烧杯中，加入体积比为1∶2的HNO3溶液溶解样品，用KBr标准溶液滴定样品溶液来测定其中的银含量，并用电位计指示终点。平行测试样品三次。

4.3 ICP光谱法测定首饰银含量

准确称取0.10000g银首饰样品于烧杯中，加入硝酸溶解样品，后加入盐酸，静止使银完成沉淀成氯化银，过滤到100mL容量瓶中，加入适量盐酸，用水定容至刻度。使用ICP光谱仪测定样品中杂质元素含量，用差减法确定银含量。平行测试样品二次。

5 结果数据分析过程

5.1 X射线荧光光谱法测定银含量结果分析

接着，笔者把三个银首饰样品压片剪碎平均分成11份，送到11个检测场所，使用四种不同型号的XRF仪器测试，汇总结果见表3，尽管是不同型号的XRF仪器，但其测试值的标准偏差小于0.2%，结果令人满意。从表3可以看出，样品S1的银含量平均值为929.80‰，S2的银含量平均值为926.54‰，S3的银含量平均值为927.20%。样品压片后使用XRF测试银含量均比表面测试银含量降低，但银含量均在925‰之上。

根据作业指导书将X射线荧光分析仪调试到最佳的状态，根据样品的大概银含量范围，选择仪器已建立好的分析方法，在样品中选择6个有代表性的、不同位置的测试点进行测试，测试完成后分析图谱计算出样品中的银含量。

笔者首先使用X射线荧光光谱法分析银首饰表面银含量，发现表面银含量较高，约为950.4‰。通过观察，发现银首饰表面相当明亮，可以得出这三个银首饰采用表面电镀，镀层为银元素的结论。

5.2 电位滴定法(仲裁法)和ICP光谱法测定银含量结果分析

为了进一步确定三个银首饰样品的整体银含量，使用最广泛的电位滴定法(仲裁法)测定其银含量，结果见表4，样品S1的银含量平均值为922.4‰，S2的银含量平均值为920.6‰，S3的银含量平均值为921.2%。同时也使用ICP光谱法分析样品的银含量，表5分析数据表明三个银含量样品的杂质元素为铜和锌，样品S1的银含量平均值为925.5‰，S2的银含量平均值为921.8‰，S3的银含量平均值为922.0%。两者结果比较，ICP法检测结果和银滴定的检测结果基本符合。但其银含量皆小于925%。判定三个样品其纯度不符合银925的标准。

表3 X射线光谱法测定样品的银含量结果

Table 3 The silver content of the samples by XRF analysis

仪器型号样品银含量S1(‰)S2(‰)S3(‰)QUANT’X929.35927.94929.51QUANT’X932.26927.85927.55EDX3000PLUS930.60926.80929.10EDX3000PLUS927.20926.48925.63EDX3000PLUS930.93927.45928.06EDX3000PLUS930.04925.36925.77Smart100PLUS930.80925.50926.30Smart100PLUS927.00924.50925.90Smart100PLUS930.63927.02927.70XAN250928.65927.02927.70XAN250930.30926.08926.00平均值(‰)929.80926.54927.20标准偏差(%)0.170.120.15

表4 电位滴定法测定样品的银含量结果

Table 4 The silver content of the samples by potentiometric titration method

样品测量结果(‰)123平均值S1922.4922.1922.8922.4S2916.2924.0921.7920.6S3921.1921.0921.5921.2

表5 ICP光谱法测定样品的银含量结果

Table 5 The silver content of the samples by ICP spectral analysis

样品测量次数元素含量结果(‰)CuZnSnAg银含量平均值S1142.38431.6170.501925.5242.77831.0670.668925.5925.5S2134.61644.4110921.0233.88443.4210922.7921.8S3134.54943.5740921.9234.82242.9740922.2922.0

5.3 X射线荧光光谱法与电位滴定法结果比较

综合X射线荧光光谱法的测定结果和电位滴定法测试结果比较，发现这两种方法测定的银含量结果相差很大，测试的银首饰样品为表面银镀层，出现表面银含量较高情况，但实际的银含量却不足925‰，分析其原因为本次实验测试的银首饰样品表面都有镀层，样品在使用XRF分析时只是压片后剪碎测试的，镀层残留在压片表面是引起X射线荧光法测试结果整体偏高的原因。

6 结论

使用X射线荧光分析法是一种无损检测法，其中银首饰的镀层对检测结果的影响是存在的，不能只对银首饰表面进行简单的测定就给出判定结果。因此，提醒相关贵金属检测部门，在检测中若发现贵金属样品有镀层的现象，须进一步与客户商议，除去镀层后再进行相关的检测，针对样品的具体情况采取适当的检测方法，对结果有疑惑或有争议时，应以化学方法的结果为准。

参考文献：

[1] 罗志高,朱敏,李蒙.影响珠宝首饰中银含量检测结果的因素[J].现代测量与实验室管理,2016(3):20-22.

[2] 莫森,赵木莲,梁锡海,等.18K含铑镀层饰品金含量测试方法[J].中国检验检测,2017(2):14-16.

[3] GB/T 18043-2013.首饰贵金属含量的测定X射线荧光光谱法[S].

[4] 闫中健.电位滴定法测定银饰品银含量的测量不确定度评定[J].山西科技,2016,31(2):52-54+57.

[5] 龚诚,杨佩,杨鹤,等.两种滴定方法测定银首饰中银含量不确定度的评定[J].贵金属,2013,34(S1):186-189.

[6] 高瑞峰,杨佩,周亮,等.ICP-AES法测定高纯银中的锌元素[J].贵金属,2011,32(3):46-49.